熱電阻溫度計參數

熱電阻(RTD)溫度計，適用于衛(wèi)生和無菌應用場合

公制型儀表，采用通用技術

適用于所有標準應用場合，帶固定不可更換鎧裝 芯子

熱電阻溫度計參數應用

• 專門設計用于食品&飲料和生命科學行業(yè)中的衛(wèi)生和無菌應用場合

• 測量范圍為–50…+200 °C (–58…+392 °F)

• Z大壓力為 50 bar (725 psi)

• Z高防護等為 IP69K

• 可以在非防爆區(qū)域中使用

模塊化變送器

相比于不經過溫度變送器而直接接線的測量方法，Endress+Hauser 能為用戶提供 高測量精度、高測量可靠性的溫度變送器。根據實際工況條件，選擇下列信號輸出 和通信方式：

4…20 mA HART®模擬量輸出

優(yōu)勢

• 高性價比和發(fā)貨迅速

• 用戶友好且可靠的從產品選型至維護過程

• 認證：衛(wèi)生型標準，符合 3-A®認證、EHEDG 測試、ASME BPE 認證、FDA 認證、TSE 適用性認證

• 提供多種過程連接

測量原理

熱電阻(RTD)

熱電阻采用符合 IEC 60751 標準的 Pt100 溫度傳感器。溫度傳感器為溫度敏感性鉑熱電阻，阻抗 為 100 ? (0 °C (32 °F)時)，溫度系數為 α = 0.003851 °C-1。

通常，有兩種不同類型的鉑熱電阻：

• 繞線式(WW)：由兩根細的高純度鉑絲在陶瓷載體內繞制而成，并通過陶瓷保護層在載體頂部 和底部對鉑絲進行密封處理。此類熱電阻具有高可重現性，過程溫度高達 600 °C (1112 °F)時， 仍能保證良好的阻抗-溫度關系的長期穩(wěn)定性。繞線式(WW)熱電阻的體積較大，抗振性較差。

• 薄膜式鉑電阻溫度計(TF)：在真空狀態(tài)下，將厚度約為 1 μm 的超高純度鉑層汽化固定在陶瓷基 板上，光刻制作而成。由此構成的鉑導體形成測量阻抗。附加覆蓋層和鈍化層可靠保護薄鉑 層，防止高溫條件下出現氧化和污染。

薄膜式(TF)熱電阻與繞線式(WW)熱電阻相比，突出優(yōu)點為較小的體積和較好的抗振性。高溫條件 下，薄膜式(TF)熱電阻的阻抗-溫度關系偏差較小，符合 IEC 60751 標準。因此，薄膜式(TF)熱電阻的溫度測量誤差可達溫度等 A，符合 IEC 60751 標準(Z高溫度約為 300 °C (572 °F))。所以， 薄膜式(TF)熱電阻通常僅在溫度低于 400 °C (752 °F)的條件下測量。

Endress+Hauser 提供用于溫度測量點的整套優(yōu)化部件，包括將測量點無縫集成至整個工廠中的所 有所需部件。包括：

• 電源單元/隔離柵

• 顯示單元

• 過電壓保護單元